1. 普通級（示值誤差≤±10%）：適配低要求硬材質(zhì)

• 適用材料：硬度≥HRC30 的普通金屬（碳鋼、鑄鐵）、硬質(zhì)塑料。

• 準確性表現(xiàn)：測量 Ra 0.4-1.6μm 的粗糙表面時，誤差在允許范圍內(nèi)，能滿足基礎篩查需求。

• 不適配情況：軟質(zhì)材料（橡膠、軟塑料）易被探針劃傷，光滑表面（Ra＜0.4μm）測量誤差會超出 ±10%，數(shù)據(jù)不可靠。

2. 精密級（示值誤差≤±5%）：通用型適配多數(shù)材料

• 適用材料：中硬度金屬（鋁合金、銅合金）、硬質(zhì)塑料、木材、陶瓷。

• 準確性表現(xiàn)：測量 Ra 0.1-20μm 的表面時，硬材質(zhì)誤差≤±5%，軟質(zhì)硬塑料（如 POM）誤差≤±7%，兼顧精度與通用性。

• 局限：納米級光滑表面（Ra＜0.1μm）或極軟材料（硅膠）測量時，誤差會略高于額定值，無法滿足高精度要求。

3. 高精度級（示值誤差≤±2%）：適配關鍵硬材質(zhì)與部分軟質(zhì)材料

• 適用材料：高強度合金（鈦合金、不銹鋼）、精密陶瓷、工程塑料（PEEK）、部分軟金屬（純銅）。

• 準確性表現(xiàn)：硬材質(zhì)測量誤差穩(wěn)定在 ±2% 以內(nèi)，軟質(zhì)材料通過優(yōu)化探針壓力（接觸式）或非接觸模式，誤差可控制在 ±3%，能支撐關鍵部件檢測。

• 注意：極軟材料（泡沫、軟橡膠）仍可能因表面變形導致誤差略升，需搭配專用探頭。

4. 超高精度級（示值誤差≤±0.5%~±1%）：適配超精密材料與科研場景

• 適用材料：半導體材料（硅片、晶圓）、光學玻璃、納米涂層、生物材料。

• 準確性表現(xiàn)：非接觸式（激光、干涉）機型測量光滑表面（Ra＜0.05μm）誤差≤±1%，接觸式機型測量硬脆材料誤差≤±0.5%，wan全匹配超精密需求。

• 優(yōu)勢：對材料表面損傷極小，數(shù)據(jù)重復性ji佳，適合科研或高附加值產(chǎn)品檢測。

核心適配邏輯

• 硬材質(zhì) + 常規(guī)粗糙度：精密級儀器即可保證準確性，無需盲目選高精度。

• 硬材質(zhì) + 超精密 / 關鍵部位：高精度級或超高精度級是必要選擇，避免誤判。

• 軟質(zhì)材料：優(yōu)先選非接觸式機型，精度等級需提升一級（如常規(guī)軟質(zhì)材料選高精度級），減少表面變形影響。