儀器本身核心因素

• 光電探測(cè)器性能：探測(cè)器的線性響應(yīng)范圍、噪聲水平直接決定信號(hào)轉(zhuǎn)換精度。

• 光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量：鏡頭分辨率、雜光抑制能力、濾光片準(zhǔn)確性會(huì)影響光線收集的純凈度。

• 校準(zhǔn)狀態(tài)：未定期校準(zhǔn)或校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件精度不足，會(huì)導(dǎo)致測(cè)量值系統(tǒng)性偏差。

測(cè)量環(huán)境干擾因素

• 環(huán)境光干擾：周圍雜光未被有效遮擋，會(huì)疊加到目標(biāo)光線中影響結(jié)果。

• 溫度變化：儀器工作溫度超出標(biāo)定范圍，會(huì)導(dǎo)致電子元件性能漂移。

• 大氣條件：戶外測(cè)量時(shí)，灰塵、霧氣會(huì)衰減光線，降低測(cè)量準(zhǔn)確性。

操作與使用因素

• 視場(chǎng)角匹配：視場(chǎng)角選擇與測(cè)量目標(biāo)大小不匹配，會(huì)納入無關(guān)區(qū)域光線。

• 測(cè)量距離不當(dāng)：過近可能超出儀器測(cè)量范圍，過遠(yuǎn)會(huì)導(dǎo)致光線收集不足。

• 對(duì)準(zhǔn)誤差：未準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)測(cè)量目標(biāo)的核心區(qū)域，導(dǎo)致采樣位置偏差。