哪些問(wèn)題會(huì)對(duì)磁性測(cè)厚儀精度造成影響？

更新時(shí)間：2024-08-23

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影響磁性測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素主要有：基體金屬磁性、基體厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、表面粗糙度、外界磁場(chǎng)、附著物質(zhì)、測(cè)頭壓力、測(cè)頭位置、試樣的變形等。　　

一、影響測(cè)量精度的因素及有關(guān)說(shuō)明　　

⒈ 基體金屬磁性　　

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理及冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。　　

⒉ 基體金屬厚度　　

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。　　

⒊ 邊緣效應(yīng) 　　

儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。　　

⒋ 曲率　　

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。　　

⒌ 表面粗糙度　　

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還需要在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。　　

⒍ 磁場(chǎng) 　　

周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。　　

⒎ 附著物質(zhì) 　　

對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，需要清除附著物質(zhì)，進(jìn)而保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。　　

⒏ 測(cè)頭壓力　　

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此儀器測(cè)頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。　　

⒐ 測(cè)頭的放置　　

測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。　　

⒑ 試件的變形　　

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。　　

二、使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定　　

⒈ 基體金屬特性　　

標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。　　

⒉ 基體金屬厚度　　

檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度。　　

⒊ 邊緣效應(yīng) 　　

不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。　　

⒋ 曲率　　

不應(yīng)在試件彎曲表面上測(cè)量。　　

⒌ 讀數(shù)次數(shù) 　　

通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同，因此需要在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在zhi定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。　　

⒍ 表面清潔度　　

測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

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